Brasília, 3/11/2003 (Agência Brasil - ABr) - Promover o debate sobre a metrologia e a inovação para a competitividade é o principal objetivo do II Encontro Internacional de Metrologia e Inovação para a Competitividade, que se realiza 4ª feira (5), em São Paulo. O evento, promovido pelo Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Inmetro) em parceria com o Instituto Nacional de Tecnologia (INT), Movimento Brasil Competitivo (MBC) e Sebrae, reúne técnicos e especialistas como o presidente do Inmetro, Armando Mariante, do INT, João Luiz Hanriot Selasco, e do secretário executivo do Ministério da Ciência e Tecnologia, Wanderley de Souza. (Ascom Inmetro)